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GB/T 39865-2021 单轴晶光学晶体折射率测量方法

时间:2023-11-17 09:43:49 点击次数:0
 

办理一份检测报告需要通过寄样至实验室或安排检测人员到现场按照相关标准执行后得到结果数据,报告真实有效。《GB/T 39865-2021 单轴晶光学晶体折射率测量方法》中规定了相关产品的检测项目、方法及相关数值标准,如果您有产品需要依据《GB/T 39865-2021 单轴晶光学晶体折射率测量方法》标准进行检测,百检网可以为您安排工程师对接一对一进行沟通确认具体检测方案。

GB/T 39865-2021.Method for measuring refractive index of uniaxial optical crystals.

1范围

GB/T 39865规定了单轴晶光学晶体折射率测量方法的环境要求测量原理与方法、检测仪器要求、待测量样品准备、测量步骤、数据处理和不确定度评定。

GB/T 39865适用于单轴晶光学晶体的折射率测量,其他光学晶体的折射率测量可参照执行。

2测量环境要求

测量环境要求如下:

a) 温度:21℃士3℃ ,测量过程中温度变化不大于0.5℃;

b) 相对湿度:不大于30%;

c)振动:满足设备对环境的振动要求。

4仪器要求

4.1所采用的仪 器为折射率测量仪。

4.2折射率测量仪光源的要求:波长范围满足晶体折射率测量要求。

5样品

5.1 晶体样品需加工成直角棱镜,样品示意图如图2所示。

5.2 待测样品顶角θ应保证入射光在出射面abef不发生全反射, 范围宜10°~35°。

5.3直角面abcd和斜面abef分别为抛光的人射面abcd和出射面abef,尺寸为10mmX10mm~20mmX20mm,且应保证晶体直角面abcd以及斜面abef与底面adf垂直。人射面abcd和出射面abef为抛光面,面形应优于0.2入(入=632.8nm),其他表面为毛面。

5.4待测样 品选择晶体光轴垂直或平行于棱镜直角边,光轴与人射面abcd法线夹角90°士5'。

5.5待测样品置于测量环境中2h~5h以上。

5.6待测样品表面不应有污渍、擦痕。

《GB/T 39865-2021 单轴晶光学晶体折射率测量方法》标准内容仅部分展示,如果您有相关需求请致电百检网咨询。

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